湖南雷尼绍陶瓷测针的行业须知

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双频激光干涉仪

双频激光干涉仪是在单频激光干涉仪的基础上发展而来的一种外差式干涉仪。

在激光器上，加上一个约0.03特斯拉的轴向磁场。由于塞曼分裂效应和频率牵引效应,激光器产生f1和f2两个不同频率的左旋和右旋圆偏振光。经1/4波片后成为两个互相垂直的线偏振光,再经分光镜分为两路。一路经偏振片1后成为含有频率为f1-f2的参考光束。使用机床对刀测头，在刀具旋转的状态下在机测量刀长和轮廓，可以迅速确定刀具参数并输入控制器处理。

测针补偿

三坐标经由测头（硬质测头或电子式触发测头）来触测零件以取得并收集测量数据，因为测针是利用测针球的圆周来触测工件，所以触测零件时测针球的球心点及测针的半径必须事先计算出来，此测针校验动作就是先用测针去触测标准球，当测针校验过后（测量软件已得知测针的球心位置跟半径尺寸），当测针接触到零件时，三坐标测量机控制柜接受的坐标值应是红宝石球头中心点坐标，显然，测量软件将自动沿着测针从接触点回退的方向加上一个红宝石球半径作为测量值。测针校验前需要对测头进行定义，根据测量机及测量软件配置要求，选择（输入）测座、测头（传感器）、加长杆、测针、标准球直径（是标准球出厂校准证书上的实际直径值）等，同时要分别定义其不同角度。

零件识别/毛坯余量分配

在自动化制造过程中，如FMS或者CIMS系统都有大量的在机测量测头的智能化使用的范例，在机测量测头可以被用来检测零件特征，判断零件并调用相应的加工程序，实现无人化生产；1、单频激光干涉仪从激光器发出的光束，经扩束准直后由分光镜分为两路，并分别从固定反射镜和可动反射镜反射回来会合在分光镜上而产生干涉条纹。对于一些易变形不稳定的毛坯，可以用机床测头的在机测量结果来分配切削余量或者选择不同的加工程序。