雷尼绍RMP60测头高品质的选择

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双频激光干涉仪

双频激光干涉仪是在单频激光干涉仪的基础上发展而来的一种外差式干涉仪。

在激光器上，加上一个约0.03特斯拉的轴向磁场。由于塞曼分裂效应和频率牵引效应,激光器产生f1和f2两个不同频率的左旋和右旋圆偏振光。1、单频激光干涉仪从激光器发出的光束，经扩束准直后由分光镜分为两路，并分别从固定反射镜和可动反射镜反射回来会合在分光镜上而产生干涉条纹。经1/4波片后成为两个互相垂直的线偏振光,再经分光镜分为两路。一路经偏振片1后成为含有频率为f1-f2的参考光束。

为什么要校验三坐标的测针

在实际测量零件中，零件是不能随意移动和翻转的，为了便于测量，需要根据实际情况选择测头角度和长度、大小、形状不同的测针（星型、拄型、针型）为了使这些不同的测头角度和长度、大小、形状不同的测针所测量的元素能够直接进行计算，要把他们之间的关系测量出来，在计算时进行换算，所以需要进行测针的校验。例如：用测针去碰触零件时应尽可能与零件的被测面保持垂直方向（如下图）。

在机测量零件

在大型模具产品中，有大量毛坯材料昂贵、加工周期长的零件，这类零件一旦报废将损失惨重。因此，在加工过程中进行监测以排除各种因素对尺寸精度的影响便十分重要。数据采集实时显示在屏幕上，因此在测试过程中可以检测到所有误差或问题，然后测试结束，无需浪费额外时间（如果在慢进给率下执行大半径测试，则更为重要）。机床测头系统提供了一种方便可靠的解决方案，不必在加工过程中多次将零件搬移到计量室，只需调用相应的在机测量循环，应用机床测头系统，即可测出结果。根据零件在机测量的不同需要，可以使用代码导出的标准在机测量循环，也可以使用基于PC机的对话式在机测量软件，还可以使用直接从CAD导入零件模型的自动在机测量软件OMV（On Machine Verification）。大量应用实例表明，正确地使用机床测头系统，有可能消除零件在加工中超差、报废的现象。